Structural characterization of aluminum induced polycrystalline silicon films

---

kılıçerkan g., CANDAN İ., GÜLLÜ H. H., TURAN R., ERTUĞRUL M., KÜÇÜKPARLAK Ö., ...Daha Fazla

9th Nanoscience and Nanotechnology Conference, Erzurum, Türkiye, 24 - 28 Haziran 2013, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Erzurum
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Karadeniz Teknik Üniversitesi Adresli: Evet