Structural characterization of aluminum induced polycrystalline silicon films


kılıçerkan g., CANDAN İ., GÜLLÜ H. H., TURAN R., ERTUĞRUL M., KÜÇÜKPARLAK Ö., ...Daha Fazla

9th Nanoscience and Nanotechnology Conference, Erzurum, Türkiye, 24 - 28 Haziran 2013, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Erzurum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Karadeniz Teknik Üniversitesi Adresli: Evet