Determination of Valance Electronic Structure of Cu and Zn in Cu1-xZnx alloy thin films by using Kb-to-Ka X-ray Intensity Ratios

Cengiz E., KÖKSAL O. K., KARAHAN İ. H., Özdemir R., APAYDIN G.

European Conference on X-Ray Spectrometry, Ljubljana, Slovenya, 24 - 29 Haziran 2018, ss.59, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ljubljana
  • Basıldığı Ülke: Slovenya
  • Sayfa Sayıları: ss.59
  • Karadeniz Teknik Üniversitesi Adresli: Evet