A Novel Keypoint Based Forgery Detection Method Based on LPQ and SIFT
"International Conference on Electrical and Electronics Engineering, ELECO 2015", Bursa, Türkiye, 26 - 28 Kasım 2015, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: Bursa
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Karadeniz Teknik Üniversitesi Adresli: Evet