Ayrık Sistemler için metrik sınıflandırma”, SİU’2001, KKTC, s. 554-560.


NABIYEV V.

Sinyal işleme ve Uygulamaları Kurultayı , SİU’xx2001, Kıbrıs (Kktc), 25 - 27 Nisan 2001, ss.554-560

  • Basıldığı Ülke: Kıbrıs (Kktc)
  • Sayfa Sayıları: ss.554-560