Ayrık Sistemler için metrik sınıflandırma”, SİU’2001, KKTC, s. 554-560.


NABIYEV V.

Sinyal işleme ve Uygulamaları Kurultayı , SİU’xx2001, Cyprus (Kktc), 25 - 27 April 2001, pp.554-560

  • Publication Type: Conference Paper / Full Text
  • Country: Cyprus (Kktc)
  • Page Numbers: pp.554-560
  • Karadeniz Technical University Affiliated: No