Farklı Marka Ofis Kağıtlarında XRF Yöntemiyle Element Analizi

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Karadeniz Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2013

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: Mustafa YAYLI

Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): GÖKHAN APAYDIN

Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu

Özet:

Bu çalı?mada 27 farklı marka 80g/m2 ve 210x297mm boyutlu beyaz A4 kağıtlar; beyaz kağıt, fotokopili kağıt ve kül peletler halinde EDXRF (Epsilon5, PANalytical) sistemiyle analiz edilmi?tir. Yapılan analiz çalı?maları sonucunda kağıt numunelerinden elde edilen ppm düzeyindeki element konsantrasyon değerleri ve bu değerler arasındaki Pearson Correlation ili?kileri SPSS programı ile hesaplanmı?tır. Analiz çalı?malarıyla beyaz kağıt içeriğinde ağırlıklı olarak sırasıyla Ca, Al, Si; fotokopili kağıtta Ca, Fe, Al; kül peletlerde Ca, Si, Al elementleri tespit edilmi?tir. Ayrıca numunelerin önemli bir kısmında insan sağlığı ve çevre kirliliğinde önemli etkileri olan Pb, Zn, Hg, Co, Ni, Br elementlerine rastlanmı?tır. Element konsantrasyonları arasında en güçlü ili?kiler beyaz kağıt ve fotokopili kağıt için Zn-Fe arasında olup, kül verileri için önemli düzeyde anlamlı bir ili?ki tespit edilememi?tir. Bu çalı?ma ile elde edilen verilere bakıldığında kağıt içeriğinin önemli ölçüde deği?tiği görülmektedir. Yeni çalı?malar farklı örnek gruplarıyla yapılmalıdır.