Kimyasal püskürtme yöntemiyle alde edilen CdO ince filmlerinin bazı yapısal, elektriksel ve optik özelliklerinin incelenmesi

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Karadeniz Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2006

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: İSMAİL POLAT

Danışman: Emin Bacaksız

Özet:

Bu çalışmada, kimyasal püskürtme yöntemi ile CdO ince filmler cam altlıklar üzerinde elde edildi. 200°C altlık sıcaklığında üretilen CdO ince filmler 450°C sabit sıcaklıkta farklı sürelerde tavlandı. Bu filmlerin XRD, SEM ve soğurma analiz ölçümleri yapılarak, elektriksel, yapısal ve optik özellikleri incelendi. CdO ince filmler (111) ve (200) yansıma düzlemleri doğrultusunda kübik yapıda büyüdü. Karakteristik (111) ve (200) pik şiddetlerinin tavlama süresinin artmasıyla büyüdüğü görüldü. Van der Pauw yöntemi kullanılarak ölçülen CdO ince filmlerinin özdirenç değerleri 4,45x1ü-6- V/lxlO-6 £2xcm değerler arasında değişti. Filmlerin yüzey fotoğrafları taramalı elektron mikroskobu (SEM) kullanılarak elde edildi. Tane çaplarının tavlama süresinin artmasıyla büyüdüğü gözlendi. Optik soğurma ölçümlerinden, filmlerin yasak enerji aralığının tavlama süresinin artması ile azaldığı tespit edildi. Anahtar Kelimeler: CdO, kimyasal püskürtme, Hail katsayısı, X-ışını Kırınımı, Elektriksel Özellikler, Optiksel Özellikler, Tavlama