Ag-Cu İnce Film Alaşımlarına ait X-ışını Floresans Parametrelerinin EDXRF yöntemiyle ölçülmesi

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Karadeniz Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2015

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: Kazım Karabulut

Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): GÖKHAN APAYDIN

Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu

Özet:

Bu çalışmada Ag-Cu ince film alaşımlarında bulunan Ag ve Cu elementlerinin K tabakası floresans tesir kesiti ve floresans verimi ED-XRF tekniği kullanılarak araştırıldı. Numuneler 241Am radyoizotop halka kaynağından yayımlanan 59.5 keV enerjili γ-ışınları ile uyarıldı ve numunelerden yayımlanan karakteristik K X-ışınları, rezolüsyonu 5.9 keV'de 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. Bu çalışmadan elde edilen değerler teorik değerlerle karşılaştırıldı. XRF parametreleri arasındaki farkların alaşım konsantrasyonuna bağlı olmadığı gözlemlendi.