Yayınlar & Eserler

Yayın Ağı
Hakemli Bilimsel Toplantılarda Yayımlanmış Bildiriler 1

1. Influence of Thermal Treatment Parameters on the Structural and Electrical Behavior of Si-Based MOS Capacitors with ZrO₂ Gate Dielectric

AKDAĞ A. A., TERZİOĞLU C., KAYA Ş.
6th International Engineering Research Symposium, Düzce, Türkiye, 7 - 09 Mayıs 2026, ss.106, (Özet Bildiri)
Metrikler

Yayın

1